日置低電阻測試儀RM3542C精度可達0.015%，最小分辨率可測量0.1μΩ的電阻。在變頻器馬達的線圈檢查等需要高分辨率的電阻測量等領(lǐng)域游刃有余。在電子零部件方面，多用于導電薄膜/導電橡膠等高電阻材料。

一、日置低電阻測試儀產(chǎn)品特點：

升級自動化與品質(zhì)，實現(xiàn)下一代生產(chǎn)檢測

● ΔR（工序?qū)Ρ龋┫轗M3542C-3

● BIN（分選•分級）限RM3542C-3

● 跳線電阻測量支持功能

● 節(jié)拍×再現(xiàn)性

● 低應力測量

● 抗干擾性

二、產(chǎn)品優(yōu)勢：

升級自動化與品質(zhì)，實現(xiàn)下一代生產(chǎn)檢測

RM3542C是專為片式電阻器/片式鐵氧體磁珠的量產(chǎn)檢測自動化設備的直流電阻計。通過 ΔR對比工序前后的變化率、BIN功能（最多7個等級）即時判定產(chǎn)品合格與否及等級、跳線電阻測量支持功能加速低電阻分選，實現(xiàn)更嚴格的檢測，提高檢測效率。此外，通過低應力測量與實時監(jiān)控接觸狀態(tài)保障檢測可靠性，以及優(yōu)化量程結(jié)構(gòu)與浮式設計，實現(xiàn)量產(chǎn)檢測環(huán)境下的穩(wěn)定測量。

三項新功能，推動檢測升級 跳線電阻測量時間最、快可縮短76%：跳線電阻測量支持功能

針對跳線電阻（零歐姆電阻）等100 mΩ以下元件的檢測，可跳過耗時的高精度量程。在典型測試條件下，測量時間縮短約76%。

示例：檢查100mΩ跳線電阻（零歐姆電阻）

比較器設置：上限值100 mΩ、下限值50 mΩ

測量儀設置：測量速度FAST、延遲（從施加時間開始到測量的時間）：0 ms

提高分選•分級工藝的效率：BIN功能（限RM3542C-3）

根據(jù)多項判定基準，將測量結(jié)果劃分為0～6等級。實現(xiàn)合格與否判定的同時，簡化了量產(chǎn)檢測必需的分級流程。

提高檢測可靠性及貼裝工藝檢測判定與傳送處理的速度：ΔR功能（限RM3542C-3）

由兩臺測量儀的測量結(jié)果，自動計算并比較電阻值變化率（ΔR），再根據(jù)閾值判定產(chǎn)品合格與否。

無需借助外部運算，即可在產(chǎn)線內(nèi)完成工序間對比。

Proven Foundation:可靠性經(jīng)量產(chǎn)現(xiàn)場考驗

靈活的累積時間設置與量程優(yōu)化，兼顧生產(chǎn)效率與高精度穩(wěn)定測量。

各量程可獨立設置累積時間，支持從FAST 0.9 ms（最、快速度）到SLOW高精度測量。采用3Ω/300Ω等中間量程，改善S/N并降低測量偏差。

此外，采用浮式設計，即使在生產(chǎn)線這類強干擾環(huán)境中，也能實現(xiàn)穩(wěn)定測量。

采用低應力測量，防止元件特性發(fā)生變化及受損，實現(xiàn)高可靠性測量。

可將作為測量應力主要誘因的施加電壓限制在5V以下。在H/L端子側(cè)交替施加接觸改善電流，修整電極表面的同時，抑制沖擊電流峰值。

兼顧0201及特性易發(fā)生變化的鐵氧體磁珠的檢測需求。

【操作條件】LOW POWER:ON或施加電壓限制功能：ON狀態(tài)下，接觸改善功能設為脈沖。

接觸改善+接觸狀態(tài)監(jiān)控，大幅降低誤判風險，確保高檢測可靠性

通過測量前的接觸改善（17/25/35/50 mA）穩(wěn)定接觸狀態(tài)。檢測過程中，由接觸監(jiān)控功能實時監(jiān)控狀態(tài)，降低因接觸不良導致的誤判及產(chǎn)線停機風險。

為更穩(wěn)定的系統(tǒng)運行與嚴苛檢測保駕護航

通過預設功能可一鍵調(diào)用測量條件，減少換產(chǎn)失誤，保障產(chǎn)線穩(wěn)定啟動。搭載工位錯位預防功能，可避免兩臺校正設備在校正或維護后的設備連接錯誤。此外，設備支持90天精度保障*，能維持更高測量精度，滿足超窄公差元件的檢測需求。換產(chǎn)再現(xiàn)性、產(chǎn)線穩(wěn)定性、嚴苛判定力三者兼得。

*限RM3542C-3

日置授權(quán)代理商：蘇州威銳科電子有限公司

我們的優(yōu)勢：日置、和普、是德、泰克、固緯、海思、安柏、同惠、艾德克斯、普源等

規(guī)格參數(shù)：

基本參數(shù) 精度保證時間1年（僅RM3542C-3有90天精度）