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低電阻測(cè)試儀

Trek表面電阻測(cè)試儀日置低電阻測(cè)試儀固緯低電阻測(cè)試儀安柏低電阻測(cè)試儀和普低電阻測(cè)試儀同惠低電阻測(cè)試儀

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TH2516B同惠低電阻測(cè)試儀

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TH2516系列同惠低電阻測(cè)試儀采用當(dāng)前主流的32bits CPU和高密度SMD貼裝工藝，帶觸摸功能的24位色4.3英寸彩色液晶屏，界面清爽、操作便捷；0.05%的最高電阻測(cè)量精度及1uΩ最小電阻分辨率，其適用于繼電器接觸電阻、接插件接插電阻、導(dǎo)線電阻、印制板線路及焊孔電阻等；其超高速的測(cè)試速度以及通過(guò)handler接口可以輸出3檔不同邊界的比較結(jié)果信號(hào)，便于生產(chǎn)線上的自動(dòng)化操作。
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TH2516A同惠低電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-08-31

型號(hào)：TH2516A

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TH2516同惠低電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-08-31

型號(hào)：TH2516

人氣：1218

TH2516系列同惠低電阻測(cè)試儀采用當(dāng)前主流的32bits CPU和高密度SMD貼裝工藝，帶觸摸功能的24位色4.3英寸彩色液晶屏，界面清爽、操作便捷；0.05%的最高電阻測(cè)量精度及1uΩ最小電阻分辨率，其適用于繼電器接觸電阻、接插件接插電阻、導(dǎo)線電阻、印制板線路及焊孔電阻等；其超高速的測(cè)試速度以及通過(guò)handler接口可以輸出3檔不同邊界的比較結(jié)果信號(hào)，便于生產(chǎn)線上的自動(dòng)化操作。
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TH2518A同惠多通道低電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-08-31

型號(hào)：TH2518A

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同惠多通道低電阻測(cè)試儀TH2518系列電阻/溫度掃描儀模擬測(cè)試掃描單元采用同步插卡式的設(shè)計(jì)理念，可支持的插卡板測(cè)試單元可達(dá)6個(gè)，且在插卡板之間實(shí)現(xiàn)同步測(cè)量，大大提高掃描測(cè)量速度。每塊測(cè)量板內(nèi)包含16個(gè)測(cè)試端，測(cè)試端的組合支持用戶可自由編程，最高可配置高達(dá)90路電阻/溫度掃描測(cè)量通道，每通道測(cè)量可單獨(dú)設(shè)計(jì)分選比較邊界以及輸出比較分選信號(hào)。
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TH2518同惠多通道低電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-08-30

型號(hào)：TH2518

人氣：694

同惠多通道低電阻測(cè)試儀TH2518系列電阻/溫度掃描儀模擬測(cè)試掃描單元采用同步插卡式的設(shè)計(jì)理念，可支持的插卡板測(cè)試單元可達(dá)6個(gè)，且在插卡板之間實(shí)現(xiàn)同步測(cè)量，大大提高掃描測(cè)量速度。每塊測(cè)量板內(nèi)包含16個(gè)測(cè)試端，測(cè)試端的組合支持用戶可自由編程，最高可配置高達(dá)90路電阻/溫度掃描測(cè)量通道，每通道測(cè)量可單獨(dú)設(shè)計(jì)分選比較邊界以及輸出比較分選信號(hào)。
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GTL-108A固緯低電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-08-30

型號(hào)：GTL-108A

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AT51X8安柏多路并行電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-08-29

型號(hào)：AT51X8

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安柏多路并行電阻測(cè)試儀AT51X8是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、并行測(cè)量的多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)8路電阻進(jìn)行同時(shí)測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示8路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備，可使用RS232C及HANDLER接口輸出OK/NG信號(hào)，以提高生產(chǎn)自動(dòng)化測(cè)試能力!
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AT5130安柏多路電阻測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-08-29

型號(hào)：AT5130

人氣：1293

安柏多路電阻測(cè)試儀AT5130是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)30路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示30路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT5130可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，顯示位數(shù)30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。
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